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附表一,介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表BH916測試裝置GDAT高頻Q表平板電容極片Φ50mm/Φ38mm可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz間距可調(diào)范圍≥15mm...

介電常數(shù)測試儀GDAT-ABH916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微...

介電常數(shù)測試儀它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號源，頻率達(dá)60MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測量精度的性。A主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng)，電容讀數(shù),且頻率值可設(shè)置。C主...

介電常數(shù)測試儀GDAT-A北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司介電常數(shù)測試儀主要特點(diǎn)：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的,玻纖介電常數(shù)為5~6,樹脂...

介電常數(shù)測試儀型號：GDAT-A滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法一、概述介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷...

介電常數(shù)測試儀工作特性1．Q值測量a．Q值測量范圍：2～1023；b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；c．標(biāo)稱誤差A(yù)C頻率范圍25kHz～10MHz100kHz～10MHz固有...

介電常數(shù)測試儀介電體（又稱電介質(zhì)）zui基本的物理性質(zhì)是它的介電性，對介電性的研究不但在電介質(zhì)材料的應(yīng)用上具有重要意義，而且也是了解電介質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)和激化機(jī)理的重要分析手段之一，探索高介電常數(shù)的電介質(zhì)材料，對電...

介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍：50kHz～160MHz，四位有效數(shù)顯。可以連續(xù)調(diào)節(jié)和數(shù)字設(shè)置。精度0.05%。2.2Q值測量范圍：1～1000；5～100，30～300，100～1000三檔。四位有效顯示，0.1...

工頻介電常數(shù)測試儀GDAT-B介電常數(shù)測試儀簡介QS30Ⅰ型高壓電橋?yàn)閷?shí)驗(yàn)室用高精密高壓電橋,可與各類高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器配合組成高壓電容電橋，適宜于在高電壓下測量電力電纜、高壓套管、電力電容器、互感器等高壓電力設(shè)備...

介電常數(shù)介質(zhì)損耗（介質(zhì)損耗角）測試儀型號：BDAT-A◇主要特點(diǎn)：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的,玻纖介電常數(shù)為5~6,樹脂大約是3,由...